Lab Reports

电压精确测量预习报告

一、实验原理

1. 补偿法

用电压表直接测电池电动势时,电压表接入后有电流流过电池内阻,所测为路端电压。补偿法调节已知的同类电学量,使它与待测量的作用相抵消。图中调节 E0 ,直至检流计 G 指零;此时测量回路无电流,Ex=E0 ,待测电池没有因测量而产生内阻压降。

补偿法原理图

图1 补偿法原理

2. 电位差计的校准与电动势测量

电位差计的工作回路由工作电源 E0 、滑线变阻器 RP 及电阻箱 R1 、R2 、RN 构成;标准电池 EN 与检流计组成校准回路,待测电池 Ex 与检流计组成测量回路。两回路分别平衡时,检流计电流为零,工作回路电流 I0 满足

I0RN=EN,I0R2=Ex,Ex=ENR2RN.

电位差计原理图

图2 电位差计的工作、校准和测量回路

标准电池的电动势随温度 T 修正:

EN(T)=E20−4.06×10−5(T−20),E20=1.01860 V.

先设 R1+R2≈1700 Ω ,再按 RN=1000EN 设定 RN 的欧姆数值,其中 EN 以伏为单位。接通校准回路,调节 RP 至检流计指零,得到 I0=EN/RN=1 mA 。随后保持 RP 、RN 和 R1+R2 不变,反向调节 R1 与 R2 ,使测量回路也达到平衡。此时工作回路的总电阻未变,故仍有 I0=1 mA ,待测电动势为 Ex=I0R2 。若工作电流改变,须重新校准后再测量。

3. 灵敏度

测量回路平衡时,改变 R2 ,使检流计偏转 Δn 格。电位差计灵敏度定义为

S=ΔnΔE,ΔE=I0ΔR2.

本实验按 Δn=0.4×偏转小格数 换算偏转格数。灵敏度越大,同一电压变化引起的偏转越明显,越容易判断平衡位置。

4. 电池内阻与毫安表校准

先由开路平衡位置测出干电池电动势 Ex 。再让电池向标准电阻 RS 供电,用电位差计测 RS 的 PP 端电压 V=I0R2′ 。电池放电电流为 V/RS ,内阻上的压降为 Ex−V ,因此

r=Ex−VVRS.

RS 的 CC 端接通电流,PP 端用于测压。选作的毫安表校准同样测量标准电阻两端电压;当待校表读数为 I读 、电位差计平衡电阻为 R2″ 时,实际电流为

I测=I0R2″RS.

在至少三个电流点比较 I读 与 I测 ,取最大示值差与毫安表量程之比,可确定其准确度等级。

二、数据记录

1. 工作电流校准

室温 T /℃ 标准电池电动势 EN /V RN /Ω R1+R2 /Ω 检流计平衡情况

2. 干电池电动势与内阻(必做)

| 开路平衡时 R2 /Ω | Ex /V | 标准电阻 RS /Ω | 接入 RS 后平衡时 R2′ /Ω | 端电压 V /V | 内阻 r /Ω | |---:|---:|---:|---:|---:| | | | | | | |

3. 电位差计灵敏度(必做)

平衡时 R2 /Ω 改变后 R2 /Ω ΔR2 /Ω 检流计偏转小格数 Δn /格 S /格/V

4. 毫安表校准(选做,至少三组)

待校毫安表量程:________ mA。

组次 毫安表读数 I读 /mA 标准电阻 RS /Ω 平衡时 R2″ /Ω 实际电流 I测 /mA
1
2
3

三、预习思考题解答

1. 为什么保持 RP 和 R1+R2 不变?改变后怎么办?

校准后,RP 与 R1+R2 决定工作回路的电阻和电流。改变其中之一会使 I0 偏离校准值,原来的 Ex=I0R2 不再适用。应重新接通校准回路,调节 RP 使检流计指零,再测待测电压。

2. 校准时怎样调节 RP ,检流计都不动,可能是什么原因?

检流计未接入或开关未接通、检流计仍被短接保护、工作电源没有输出,都可能使指针不响应。应先检查回路通断和检流计连接,再检查工作电源及检流计状态。

3. 校准时怎样调节 RP ,检流计始终偏向同一方向,可能是什么原因?

标准电池极性或校准回路接线错误时,两电势差不能相互补偿;RN 设定不当或工作电流的可调范围不足,也会使 I0RN 始终不能等于 EN 。应核对极性、RN 与工作回路的设定,再重新寻找平衡位置。


霍尔效应实验报告

一、实验目的

  1. 了解UH 与IS 、B 、IM 意义及相互之间的关系。
  2. 掌握霍尔效应的原理
  3. 学会利用霍尔效应判断半导体导电类型及测量B 、n 、μ 。
  4. 学会用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。

二、实验原理

1. 霍尔电压的形成

当电流垂直于磁场通过半导体薄片时,运动载流子受到洛伦兹力,在垂直于电流和磁场的方向上发生偏转,薄片两侧积累异号电荷并建立横向电场,形成霍尔电压。电场力逐渐增大,直到与洛伦兹力平衡,霍尔电压达到稳定值。

图1 霍尔效应原理

图1 霍尔效应原理

设薄片长为l 、宽为b 、厚为d ,载流子浓度为n ,漂移速率为v 。按电荷量及各量的大小,有

qvB=qEH=qUHb,IS=vdbnq.

消去v ,得到

UH=1nqISBd=RHISBd=KHISB,KH=RHd.

IS 是流过霍尔元件的工作电流;IM 是线圈的励磁电流,通过改变磁场B 影响霍尔电压,二者不能混用。RH 表示材料的霍尔系数,KH 表示霍尔元件灵敏度。薄片内磁场近似均匀且垂直于片面时,固定IS 有UH∝B ;固定B 有UH∝IS 。

已知仪器标注的KH ,可以用

B=UHKHIS

测量磁感应强度。固定磁场,UH−IS 直线斜率为KHB ,由斜率可求KH ,再由RH=KHd 求霍尔系数。

2. 导电类型与载流子浓度

保持电流、磁场及电压接线方向不变,电子和空穴的导电情况产生相反的横向电势差。在本实验规定的方向下,电子向S侧积累,P侧电势较高,UH>0 、RH>0 对应N型半导体;UH<0 、RH<0 对应P型半导体。判断时必须先明确方向约定,不能脱离接线直接根据电压正负判型。

单一载流子近似下,浓度估算为

n=1|RH|e.

半导体采用修正公式

n=3π81|RH|e.

其中e 为元电荷。金属载流子浓度约为1028 m−3 ,霍尔系数很小;半导体载流子浓度低得多,在相同电流、磁场和厚度下产生的霍尔电压较大,适于制造霍尔元件。

3. 副效应与换向测量

横向电压读数除霍尔电压外,还包含埃廷斯豪森效应电压UE 、能斯特效应电压UN 、里吉—勒迪克效应电压URL 及不等位电压U0 。UE 随电流或磁场反向而变号,UN 、URL 仅随磁场反向而变号,U0 仅随电流反向而变号。在电流和磁场大小保持不变时,四次读数为

电压 IS B 读数表达式
U1 正 正 UH+UE+UN+URL+U0
U2 负 正 −UH−UE+UN+URL−U0
U3 负 负 UH+UE−UN−URL−U0
U4 正 负 −UH−UE−UN−URL+U0

因此

U1−U2+U3−U44=UH+UE.

这一组合消去UN 、URL 及U0 ,但不能消去与霍尔电压具有相同变号规律的UE 。忽略UE 后,取

UH≈U1−U2+U3−U44.

4. 电导率与迁移率

磁场为零时,测量沿样品长度方向的电压Uσ 。正、反工作电流下分别读取Uσ+ 和Uσ− ,按带符号读数计算

Uσ=Uσ+−Uσ−2.

相减可消去两次测量间保持不变、且不随电流换向变号的附加电压。由电阻与电阻率的关系得

σ=ISl|Uσ|bd,μ=|RH|σ.

Uσ 是纵向电压,不是横向霍尔电压;计算电导率时使用其绝对值。σ 的单位为Ω−1m−1 ,μ 的单位为m2V−1s−1 。

三、实验仪器

霍尔效应测试仪、带换向开关的实验架、励磁线圈、霍尔样品及连接导线。测试仪提供工作电流和励磁电流,并测量UH 及Uσ 。样品为N型GaAs,厚度d=0.2 mm ,长度l=1.5 mm ,宽度b=1.5 mm 。仪器标注霍尔灵敏度KH=180 mV/(mA⋅T) 。

四、实验内容

1. 接线与准备

  1. 断电并将IS 、IM 调节旋钮置零,连接霍尔片、实验架和测试仪。将“I_S输出”接“I_S输入”,“I_M输出”接“I_M输入”,避免将励磁电流接入样品。
  2. 接线完成后通电预热数分钟,保持两路电流为零,调节霍尔电压表至0 mV 。
  3. 将霍尔片置于线圈中心,保持磁场垂直于片面。调节位置时避免触碰薄片和电极。

2. 测量励磁电流与霍尔电压的关系

  1. 保持IS=3.00 mA ,将IM 从50 mA 增至500 mA ,每次增加50 mA 。
  2. 各电流下依次改变工作电流及磁场方向,待读数稳定后记录四个电压,同时核对方向与列名。
  3. 计算UH ,绘制UH−IM 曲线并检查线性;用已知灵敏度换算线圈中心磁感应强度,建立IM−B 对应表。

3. 测量工作电流与霍尔电压的关系

  1. 保持IM=300 mA 及样品位置不变,将IS 从0.4 mA 增至3.2 mA ,每次增加0.4 mA 。
  2. 各工作电流下记录四个换向电压,计算UH ,绘制UH−IS 直线,由斜率计算KH 及RH 。

4. 测量纵向电压

  1. 将两路电流调零,电压测量开关切换至Uσ ,保持IM=0 。
  2. 将IS 从0.04 mA 增至0.32 mA ,每次增加0.04 mA ,分别记录正反向电流下的纵向电压。
  3. 计算σ 、μ 和n 。结束后将两路电流旋钮置零,再关闭电源。

五、数据处理

四列横向电压依次对应(+IS,+B) 、(−IS,+B) 、(−IS,−B) 、(+IS,−B) 。各组霍尔电压按

UH≈U1−U2+U3−U44

计算;由仪器标注的灵敏度换算磁感应强度时,使用B=UH/(KHIS) 。第二组四列读数的方向对应关系依据课堂换向记录确定。四个横向电压读数均记录到0.01 mV ;以末位的半个单位作为舍入区间、按均匀分布估计,单次读数的标准不确定度为0.01/12 mV 。四次组合的读数不确定度为u(UH)=0.01/48=0.00144 mV (U0 的四次组合亦同)。这只是读数位数对应的估计,不包含换向期间的漂移和副效应。

计算采用1 mA=10−3 A 、1 mV=10−3 V 、1 mm=10−3 m 。表中电流、电压以记录时的单位列出,磁场和物性参数采用国际单位制。直线拟合采用最小二乘法并保留截距;对于y=ax+c ,

a=∑(xi−x¯)(yi−y¯)∑(xi−x¯)2,c=y¯−ax¯.

拟合相关系数和决定系数按

r=∑(xi−x¯)(yi−y¯)∑(xi−x¯)2∑(yi−y¯)2,R2=1−∑(yi−y^i)2∑(yi−y¯)2

计算,其中y^i 为拟合值。均方根残差为RMSE=∑(yi−y^i)2/N ,N 为数据点数。

1. 励磁电流与磁感应强度

IS=3.00 mA ,仪器标注KH=180 mV/(mA⋅T)=180 V/(A⋅T) 。

IM /mA U1 /mV U2 /mV U3 /mV U4 /mV UH /mV B /T
50 1.43 -1.45 -0.21 0.23 0.6100 0.00112963
100 2.05 -2.06 0.38 -0.39 1.2200 0.00225926
150 2.67 -2.68 1.00 -1.01 1.8400 0.00340741
200 3.29 -3.30 1.62 -1.63 2.4600 0.00455556
250 3.90 -3.91 2.23 -2.24 3.0700 0.00568519
300 4.51 -4.52 2.84 -2.86 3.6825 0.00681944
350 5.13 -5.14 3.46 -3.47 4.3000 0.00796296
400 5.74 -5.76 4.08 -4.09 4.9175 0.00910648
450 6.36 -6.37 4.69 -4.70 5.5300 0.01024074
500 6.97 -6.99 5.31 -5.32 6.1475 0.01138426

由换向读数还可计算不等位电压:

U0=U1−U2−U3+U44.

各点所得U0 约为0.828∼0.835 mV 。在50 mA 的弱磁场下,U0 大于UH ,故测得的U3 为负、U4 为正;其符号由霍尔电压与不等位电压叠加后的大小决定。

最小二乘拟合得到

UH=(0.01230636 V/A)IM−6.500×10−6 V,
B=(0.02278956 T/A)IM−1.203704×10−5 T.

两式的相关系数r=0.99999904 ,决定系数R2=0.99999809 ;霍尔电压拟合的均方根残差为2.445×10−6 V 。

图2 励磁电流与霍尔电压的线性拟合

图2 固定工作电流时的霍尔电压与励磁电流

在50∼500 mA 范围内,UH 随IM 近似线性增大。分别拟合50∼250 mA 和300∼500 mA ,斜率均约为0.012320 V/A ,未显示明显的高电流段斜率减小。若更大电流下出现斜率改变,应结合线圈温升及磁场—电流关系检查原因;本次测量不能据此认定出现磁饱和。

2. 灵敏度与霍尔系数

IM=300 mA ,由上表该点确定B=6.819444×10−3 T 。

IS /mA U1 /mV U2 /mV U3 /mV U4 /mV UH /mV
0.4 0.61 -0.60 0.38 -0.39 0.4950
0.8 1.21 -1.22 0.76 -0.77 0.9900
1.2 1.81 -1.81 1.14 -1.15 1.4775
1.6 2.41 -2.40 1.52 -1.52 1.9625
2.0 3.01 -3.01 1.90 -1.90 2.4550
2.4 3.61 -3.62 2.29 -2.29 2.9525
2.8 4.21 -4.22 2.66 -2.66 3.4375
3.2 4.82 -4.83 3.05 -3.05 3.9375

拟合得到

UH=(1.22775298 V/A)IS+3.482143×10−6 V.

r=0.99999453 ,R2=0.99998906 ,均方根残差为3.721×10−6 V 。

图3 工作电流与霍尔电压的线性拟合

图3 固定磁场时的霍尔电压与工作电流

由UH=KHISB ,对UH —IS 直线有

KH=1BdUHdIS=180.0371 V/(A⋅T),RH=KHd=3.600742×10−2 m3/C.

UH 及RH 为正,按本实验的方向约定判断样品为N型。测得的KH 与标注值的相对差约为0.0206% 。由于磁场由同一元件的标注灵敏度换算,这个差值反映两组数据的内部一致性,不能视为独立标定的绝对误差。

3. 电导率与载流子迁移率

IM=0 ,l=b=1.5×10−3 m ,d=2.0×10−4 m 。正、反向纵向电压按

Uσ=Uσ+−Uσ−2,σ=ISl|Uσ|bd

计算;电导率取各测点结果的算术平均值。

IS /mA Uσ+ /mV Uσ− /mV |Uσ| /mV σ /Ω−1m−1
0.04 -28 29 28.5 7.0175
0.08 -59 60 59.5 6.7227
0.12 -89 90 89.5 6.7039
0.16 -121 122 121.5 6.5844
0.20 -149 150 149.5 6.6890
0.24 -178 179 178.5 6.7227
0.28 -207 208 207.5 6.7470
0.32 -237 237 237.0 6.7511

八个测点的平均电导率为

σ¯=18∑i=18σi=6.7423 Ω−1m−1.

八个测点的离散性给出平均值的A类标准不确定度:

uA(σ¯)=∑i=18(σi−σ¯)28(8−1)=0.0435 Ω−1m−1.

工作电流记录到0.01 mA ,纵向电压记录到1 mV 。仪器精度未知,按末位半个单位的均匀舍入区间估计单次读数:u(IS)=0.01/12 mA ;正、反向读数的半差为u(Uσ)=1/24 mV 。按各测点读数误差相互独立传播,平均电导率的B类分量为

uB(σ¯)=18∑i=18σi2[(u(IS)IS,i)2+(u(Uσ)|Uσ,i|)2]=0.0774 Ω−1m−1.

合成标准不确定度为u(σ¯)=uA2+uB2=0.0888 Ω−1m−1 ,故σ¯=(6.74±0.09) Ω−1m−1 。尺寸及电流标定的未知系统误差不包含在此数值内。

纵向电压的线性检查给出

|Uσ|=(742.4107 V/A)IS+3.035714×10−4 V,

r=0.99986708 ,R2=0.99973418 ,均方根残差为1.110×10−3 V 。这一拟合用于检查欧姆关系,电导率结果仍采用上述逐点计算的平均值。

图4 工作电流与纵向电压的线性拟合

图4 零磁场下的纵向电压与工作电流

由μ=|RH|σ¯ 得到迁移率μ=0.24277 m2V−1s−1 。

4. 载流子浓度与结果汇总

取e=1.602176634×10−19 C 。按n=1/(|RH|e) 计算,载流子浓度为1.7334×1020 m−3 ;采用半导体修正公式n=3π/(8|RH|e) 时,结果为2.0421×1020 m−3 。

物理量 结果
IM=0.300 A 时的B 6.819×10−3 T
KH 1.800×102 V/(A⋅T)
RH 3.601×10−2 m3/C
σ¯ (6.74±0.09) Ω−1m−1
μ 0.2428 m2V−1s−1
修正后的n 2.042×1020 m−3

六、评价与讨论

本次测量获得了10组励磁电流数据、8组工作电流数据和8组纵向电压数据。两组霍尔电压曲线的R2 均大于0.99998 ,验证了所测范围内的线性关系;由换向电压判断样品为N型,并求得平均电导率(6.74±0.09) Ω−1m−1 、迁移率0.2428 m2V−1s−1 及修正后的载流子浓度2.042×1020 m−3 。

1. 现象分析

固定工作电流时,霍尔电压随励磁电流近似线性增加;固定磁场时,霍尔电压随工作电流近似线性增加。四次换向读数的绝对值并不完全相等,不等位电压约为0.83 mV ,相对低磁场下的霍尔电压不可忽略。弱磁场时,该附加项还能改变单次总读数的符号。

纵向电压在电流换向后反号,前7组两次读数的绝对值相差1 mV ,末组相等,与前7组约0.5 mV 的固定偏置相容。相减后|Uσ| 与IS 近似成正比。各点电导率为6.584∼7.018 Ω−1m−1 ,最低电流点相对均值约高4.08% ,小电压下的相对偏差更明显。

2. 误差来源分析

  1. 读数与记录误差。 横向电压记录到0.01 mV ,纵向电压记录到1 mV 。舍入或读数波动传入四次组合及两次差值,小信号点的相对影响更大,进而影响斜率和逐点电导率;按记录末位估计的读数不确定度已计入平均电导率,但不能代替仪器的标称精度。
  2. 换向期间的条件变化。 若电流大小、样品温度或附加电压在四次读数之间变化,原本应抵消的项不能完全抵消,导致UH 及拟合斜率偏移,方向取决于漂移次序。
  3. 未分离的埃廷斯豪森项。 四次组合保留UE ;若其随IS 近似线性变化,会进入UH−IS 斜率。它还可能影响用于换算磁场的第一组电压,因此最终RH 偏差取决于两组影响的相对大小,不能直接确定方向。
  4. 磁场方向及样品位置。 倾斜使霍尔电压只响应法向磁场,换算的总磁场偏小;偏离线圈中心也会改变当地磁场。若两组测量间位置或倾角改变,第一组确定的B 不再对应第二组,影响KH 和RH ;同一倾角保持不变时,角度因子可在两组比值中抵消。
  5. 灵敏度标注值的误差。 标注KH 若偏大,第一组换算的B 偏小,第二组反求的KH 、RH 及μ 偏大,n 偏小。较高的线性相关系数不能消除这一共同标定误差。
  6. 样品尺寸误差。 若采用的d 偏大,RH=KHd 偏大,而σ∝1/d 及n∝1/|RH| 偏小;同一d 在μ=|RH|σ 中相消。长度与宽度之比若偏大,则σ 及μ 均偏大。

3. 存在的问题

  1. 第二组电压列与换向方向的对应关系缺少独立记录。若列对应错误,组合电压会混入不等位项,进而影响UH —IS 斜率及物性参数。
  2. 50 mA和3.2 mA两点的手写霍尔电压与四次读数的计算值不一致。若将手写值用于拟合,会改变斜率、截距及后续参数。
  3. 纵向电压的手写平均式与两列读数的相反符号不一致。直接相加会使主要电阻电压相互抵消,造成电导率计算错误;这里应取正、反向读数的半差。
  4. 每个设定点只有一组换向记录,缺少重复测量,不能由拟合残差直接给出完整测量不确定度,也不能据KH 与标注值仅相差0.0206% 宣称同等级的测量准确度。
  5. 磁场换算与霍尔系数测量共用标注灵敏度,未形成独立磁场标定。两组数据的一致性良好,但绝对物性结果仍受该标注值影响。

七、实验问题解答

1. 什么是霍尔效应?

电流垂直于磁场通过导体或半导体时,载流子在洛伦兹力作用下偏转,使垂直于电流和磁场的方向产生电荷积累及横向电势差,这一现象称为霍尔效应。稳定时电场力与洛伦兹力平衡。

2. 为什么半导体是制造霍尔元件比较理想的材料?

半导体载流子浓度比金属低得多,由UH=ISB/(ned) 可知,在相同工作电流、磁场和厚度下,半导体能够产生更大的霍尔电压,便于测量。

3. 实验中如何判断样品的导电类型?

先确定工作电流、磁场方向及电压表正负端,再判断霍尔电压的符号。在本实验方向约定下,UH>0 、RH>0 为N型,UH<0 、RH<0 为P型。应采用消去可消副效应后的霍尔电压,不能直接以某一次原始读数判型。

4. 为什么前两个测量需要四个电压,而计算电导率只需测两项?

前两个项目测量磁场中的横向电压,附加电压随电流和磁场的变号规律不同,需要同时改变两个方向,通过四个读数分离霍尔电压。测量电导率时磁场为零,测量的是纵向电阻电压,只需反转工作电流,两次读数相减即可消去不随电流反向变化的稳定偏置。

5. 实验中如何消除副效应的影响?

保持电流和磁场大小不变,进行四次换向测量,用(U1−U2+U3−U4)/4 消去不等位电压、能斯特效应电压和里吉—勒迪克效应电压。埃廷斯豪森效应电压与霍尔电压具有相同的换向规律,不能由该组合消去,本实验将其忽略。换向过程中保持温度、位置和读数条件稳定,有助于上述抵消成立。

6. 磁场方向与霍尔元件法线不一致会有什么影响?

设夹角为θ ,起作用的是垂直片面的分量Bcos⁡θ ,故UH=KHISBcos⁡θ 。若仍按垂直入射公式换算总磁场,得到的是Bcos⁡θ ,会低估磁场大小;若使用独立已知的总磁场求KH 和RH ,二者也会低估,浓度则会高估。若标定磁场与后续测量始终使用同一倾角,相同的余弦因子可在斜率与标定磁场的比值中抵消,但所报告的磁场仍只是法向分量。

7. 霍尔效应可以用在哪些地方?

可用于测量磁感应强度、判别半导体导电类型、测量载流子浓度及迁移率。利用被测电流产生的磁场,还可制成电流传感器;利用磁场随位置变化的特征,可进行位置、转速等测量。

资料:霍尔效应教学课件(2022.10)、本次课堂笔记及实验原始记录。


Lab Reports
https://sitson.pages.dev/experiments/index.html
Author
Joe Lewis
Posted on
October 8, 2026
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